Workshop
TUZ: 35. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
Veranstaltungsort
Victor’s Residenz-HotelErfurt, Deutschland
Beschreibung
Der Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“, veranstaltet von der Gesellschaft für Informatik, der VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik sowie der Informationstechnischen Gesellschaft im VDE, ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergebnisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests, der Diagnose und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal- und HF-Schaltungen zu diskutieren. Der Austausch von Ideen ist ein wichtiges Anliegen des Workshops.
Kontakt
Prof. Dr. Mario Schölzel Professur für Prozessoren und Digitale Systeme Hochschule Nordhausen Weinberghof 4 99734 Nordhausen